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  • 这款四点探针系统是一款易于使用的工具,用于快速测量材料的薄层电阻,电阻率和电导率。通过使用我们自己的源测量单元,我们能够创建一个低成本的系统,使测量范围更广泛。探头采用弹簧加载接触,而不是尖锐的针头,防止损坏精密样品,如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。

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